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技术解析 工业级和汽车级器件的主要区别

发布日期:2024-10-16 11:00    点击次数:139

元器件一般分为军品,工业级,民用级这三个级别,市面通顺基本王人是工业级民用级,汽车级很少用于永别级别的,或者介于工业级和军品之间吧。有的厂家会在型号作念出区别,比如MAXIM,尾缀CWE和EWE就分别代表工业和民用级。

不同级别的基本亦然通用的,却照旧在于历久的问题,因为大多型号查到的pdf贵府败露的参数王人是雷同的,并且基本王人能替换使用,这也导致了市面一些立异货拿民用替换工业,工业替换军品的情况。

汽车上也有些元器件是用工业级的,奈何阐扬这个问题呢。打个比喻吧,工业级别的东西要好东西来的,好在那边呢?比如耐压、寿命、 性能、默契性、可靠性,王人是最佳的的了。诚然单价亦然最高的,民用级别的是没的比的了。

工业级使命温度范畴-20-85度,汽车级属于民用级,元件使命温度0-60度,不外一般区别是不是很大,商场上许多所谓的工业级的王人是民用级打字改成的。

工业级和汽车级器件的主要区别

工业级器件与汽车级器件的主要区别主要在于使命温度范畴,一般而言,工业级器件的使命温度范畴为-40℃~+85℃,汽车级器件则是-40℃~+125℃。商酌词,二者的区别不仅限于此,应该说汽车级器件比工业级器件有着更好的性能、更强的温度适合才智和抗搅扰才智(包括抗拒温度极限、温差变化的才智以偏执它可靠性等),调研发现,有些厂家的工业级器件使命温度范畴也能达到-40℃~+125℃(如ADI),那么汽车级器件的上风就体当今它的性能和可靠性上,而这两者之间的主要各异就体现产物的通盘坐褥、管控以及测试才智。

一、标准

汽车级器件是在工业级器件的基础上,有着一套更严格的标准,ISO/TS 16949标准和AEC系列标准依然成为IC企业干与汽车产业链的基本要求。

1、ISO/TS 16949

ISO/TS 16949标准所以ISO 9001:2000为基础训诲的针对汽车行业质地系统处理标准,其中PPAP(Production Parts Approval Process,坐褥件批准措施)要求汽车级器件需领有详备竣工的数据和文献,并在PPAP的文献中列出芯片制造商所需聘任的坐褥和质地保证措施。PPAP用来详情供货商在零件践诺地产的经过依然正确斡旋了客户的工程狡计纪录和规格中的悉数要求,并评估其是否具有执续得志这些要求的潜在才智,从而保证器件的质地。

2、AEC系列标准

汽车级器件主要遵命的AEC(Automotive Electronics Council,汽车电子委员会)系列标准有AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q001/Q002/Q003等。

AEC-Q100是针对主动零件(微适度器与集成电路等)的,主要在于防患产物多样可能发生的景象或潜在的作假契机,率领供货商在训诲的经过中就能坐褥出适合此范例的芯片。AEC-Q100对每一个恳求的个案进行严格的质地与可靠度阐明,即阐明制造商所建议的产物数据表、使用主义、功能说明等是否适合当初声称的功能,以及在屡次使用后是否能永久如一。此标准的最大场地是进步产物的良品率,这对供应商来说,不管是在产物的尺寸、及格率或者老本上王人是很大的挑战。AEC-Q100详备范例了关于IC器件的各项要求,也代表了汽车级器件制造商对产物安全的要求。

AEC-Q100范例了7大类共41项的测试:

365站群VIP 群组 A- 加快环境应力测试(ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS) 共 6 项测试,包含:PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL。 群组 B- 加快人命周期模拟测试(ACCELER-ATED LIFETIME SIMULATION TESTS) 共 3 项测试,包含:HTOL、ELFR、EDR。 群组 C- 封装拼装竣工性测试(PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS)共 6 项测试,包含:WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI。 群组 D- 晶片制造可靠性测试(DIE FABRICA-TION RELIABILITY TESTS)共 5 项测试,包含:EM、TDDB、HCI、NBTI、SM。 群组 E- 电性考证测试 (ELECTRICAL VERI-FICATION TESTS) 共 11 项测试,包含:TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER。 群组 F- 劣势筛选测试 (DEFECT SCREENING TESTS)共 11 项测试,包含:PAT、SBA。 群组 G- 腔封装竣工性测试 (CAVITY PACK-AGE INTEGRITY TESTS) 共 8 项测试,包含:MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV。

AEC-Q101标准针对对象为突破组件,包括了分离半导体原件的应力测试(包含测试方法)。

AEC-Q001/Q002/Q003标准主要为一些率领性原则。AEC-Q001主要建议参数零件平均测试(Param etric Part Average Testing,PPAT)方法,用来检测外缘半导体组件卓著特质的统计方法,将卓著组件从悉数产物中剔除。AEC-Q002是基于统计旨趣,属于统计式良品率分析,为组件制造商提供使用统计手段来检测和移除卓著芯片,让制造上能在晶圆及裸晶阶段就能赶早发现相当并将之剔除。

在器件坐褥的每一才智,王人会有相应的对工艺质地的考研。同期,在器件的坐褥完成后,会进行对器件的一整套的测试筛选。工业级器件的测试一般是在室温下对产物手册中败露的各项决策进行考研,那么汽车级器件在澈底考研各项决策的同期,还会在-40~+125℃或等效温度环境进行考研,同期汽车级器件还会按照AEC Q100标准进行考研,这就极地面进步产物的良品率和产物一致性。

二、选材与狡计

频频,器件在坐褥经过顶用到的主要材料有:晶圆(Wafer)、引线框架(Lead Frame)、银浆(Epoxy)、绑定线(Bond wire)、塑封材料(Mold Compound)。

汽车级器件在材料的取舍和狡计上,主要的花样如下:

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1、与工业级器件的选材和狡计无辞别(器件各异性体当今后续工艺以及测试等才智);

2、斟酌到汽车级器件更好的温度适合才智,使用更优质的材料或者更好的封装狡计,如使用陶瓷封装材料、增多散热片狡计等。

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凭据调研ADI和TI,在选材和狡计以上两种花样王人有存在,并且莫得昭彰倾向性那种更好,一般凭据产物需求而定。

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